000			01826naa a2200253 i 4500
001			BPP
003			BPK
005			20191005132641.0
008			151019s2004 pl f |100 0 pol
040			_cBPK
080			_a621.382
100			_aJanke, Włodzimierz _eAutor _d1996 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, _cKatedra Elementów i Miernictwa Elektronicznego
245			_aPomiary szybkich przebiegów termicznych w elementach półprzewodnikowych / _cWłodzimierz Janke, Jarosław Kraśniewski, Maciej Oleksy.
260			_c2004.
500			_aDane z autopsji.
520			_aW pracy przedstawiono wielozadaniowy system pomiarowy do badań szybkich charakterystyk termicznych elementów półprzewodnikowych. Umożliwia on badanie różnych typów elementów przy różnych typach pobudzeń. Na podstawie tych pomiarów i dodatkowego oprogramowania możliwa jest identyfikacja parametrów przejściowych charakterystyk termicznych. Przedstawione zostały również przykładowe wyniki pomiarów oraz parametrów identyfikowanych krzywych dla różnych typów elementów półprzewodnikowych, w różnych warunkach pracy.
650		0	_aPółprzewodniki.
655		0	_aMateriały konferencyjne.
700			_aKRAŚNIEWSKI, Jarosław. _d1997 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, _cKatedra Elementów i Miernictwa Elektronicznego
700			_aOLEKSY, Maciej. _d2003 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, _cKatedra Elementów i Miernictwa Elektronicznego
773			_iW : _tTrzecia Krajowa Konferencja Elektroniki : materiały konferencji. T. 2/2. - _dKoszalin : Wyd. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004. - _gs. 577-582
711			_aKrajowa Konferencja Elektroniki _n(3 ; _d2004 ; _cKołobrzeg, Polska). _pKKE'2004
942			_cART _2UKD
999			_c3693 _d3693