000 01586naa a2200265 i 4500
001 BPP
003 BPK
005 20191005132641.0
008 151019s2005 pl f |100 0 pol
040 _cBPK
080 _a621.382
100 _aJanke, Włodzimierz
_eAutor
_d1996 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki,
_cKatedra Elementów i Miernictwa Elektronicznego
245 _aCharakterystyki termiczne diod Schottky'ego z węglika krzemu /
_cWłodzimierz Janke, Macej Oleksy, Jarosław Kraśniewski.
260 _c2005.
500 _aDane z autopsji.
520 _aPrzedstawiono pomiary charakterystyk termicznych diod Schotty'ego wykonanych z SiC. Wykonano dwie grupy pomiarów - pierwsza to pomiary charakterystyk statycznych prądowo-napięciowych dla różnych temperatur otoczenia. Druga grupa to pomiary przejściowych charakterystyk termicznych.
650 0 _aDiody.
650 0 _aKarborund.
655 0 _aMateriały konferencyjne.
700 _aOLEKSY, Maciej.
_d2003 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki,
_cKatedra Elementów i Miernictwa Elektronicznego
700 _aKRAŚNIEWSKI, Jarosław.
_d1997 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki,
_cKatedra Elementów i Miernictwa Elektronicznego
773 _iW :
_tCzwarta Krajowa Konferencja Elektroniki : materiały konferencji. T. 2/2. -
_dKoszalin : Wyd. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005. -
_gs. 613-614
711 _aKrajowa Konferencja Elektroniki
_n(4 ;
_d2005 ;
_cDarłowko Wschodnie, Polska).
_pKKE'2005
942 _cART
_2UKD
999 _c3704
_d3704