000			01503nab a2200241 i 4500
001			BPP
003			BPK
005			20190610114322.0
008			140513s1979 pl f |000 0 pol
040			_cBPK
080			_a53
100			_aSTAŚKIEWICZ, Jan. _d1973 - 1996. _bWyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Instytut Inżynierii Materiałowej, _cZakład Chemii Fizycznej
245			_aUrządzenie do pomiaru odporności właściwej półprzewodników metodą czterosondową / _cJan Staśkiewicz, Andrzej Czyżniewski, Zbigniew Galocz.
260			_c1979.
500			_aDane z autopsji.
520			_aW pracy opisano stanowisko do pomiaru oporności właściwej półprzewodników metodą czterosondową. Podano parametry urządzenia i przedstawiono rezultaty jego zastosowania do pomiaru rozkładu oporności właściwej cienkich warstw dwutlenku cyny domieszkowanej antymonem /Sn)[indeks dolny]2:Sb/.
650		0	_aCyna _xzwiązki.
650		0	_aInżynieria powierzchni
773			_iW : _tZeszyty Naukowe Wyższej Szkoły Inżynierskiej w Koszalinie. Prace Instytutu Inżynierii Materiałowej. - _g1979, nr 3 [9], s. 187-198
700			_aCZYŻNIEWSKI, Andrzej. _d1975 - 1996. _bWyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Instytut Inżynierii Materiałowej, _cZakład Fizyki Ciała Stałego
700			_aGALOCZ, Zbigniew. _d1974 - 1983. _bWyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Instytut Inżynierii Materiałowej, _cZakład Fizyki Ciała Stałego
942			_cART _2UKD
999			_c4525 _d4525