000 01572naa a2200265 i 4500
001 5
003 KOSZ 005
005 20180508085458.0
008 151030s2001 fr f |100 0 eng d
040 _cBPK
_dKOSZ005/HR
041 _aeng
044 _aFRA
080 _a621.382.3
100 1 _aSUSZYŃSKI, Zbigniew.
_d1996 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki,
_cKatedra Elektroniki Ciała Stałego
245 1 0 _aThermal diagnostic of power thyristor /
_cZbigniew Suszyński, Robert Arsoba, Piotr Majchrzak.
500 _asprawozdanie jednostki (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2002 roku Wydziału Elektroniki).
520 _aIn this paper a non-destructive photothermal method of testing, namely Thermal Wave Microscopy (TWM), is applied to assess the quality of adhesion between the silicon and molybdenum layers in power thyristor structures.
650 0 _aTyrystory.
655 0 _aMateriały konferencyjne.
700 1 _aARSOBA, Robert.
_bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki,
_d1996 - .
_uKatedra Inżynierii Komputerowej
700 1 _aMAJCHRZAK, Piotr.
_bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki,
_d1998 - .
_uKatedra Inżynierii Komputerowej
711 _aTherminic Workshop
_n(7 ;
_d2001 ;
_cParyż, Francja).
773 0 8 _iW :
_tInternational workshop on thermal investigations of ICs and systems : plus a special half-day on dynamic measurements : THERMINIC, Paris, France, 24-27 September 2001. -
_dGrenoble : TIMA, 2001. -
_gs. 180-184
_z9782913329720
942 _cROZ
_2UKD
999 _c5
_d5