| 000 | 01857naa a2200265 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 5230 | ||
| 003 | KOSZ 005 | ||
| 005 | 20190610123912.0 | ||
| 008 | 140523s2011 pl f |000 0 pol | ||
| 040 |
_cKOSZ 005 _aKOSZ 005 _dKOSZ 005/HR |
||
| 041 |
_apol _beng |
||
| 080 | _a621.791/.795 | ||
| 100 | 1 |
_aKAPŁONEK, Wojciech. _d2008 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, _cKatedra Inżynierii Produkcji |
|
| 245 | 1 | 0 |
_aPomiary i analiza topografii powierzchni wzorców kontrolnych typu C przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych / _cWojciech Kapłonek, Czesław Łukianowicz, Krzysztof Nadolny, Rafał Pawlikowski. |
| 246 | 3 | 1 | _aMeasurements and analysis of surface topography of calibration specimens of type C for stylus profilometers |
| 500 | _aDane z autopsji. | ||
| 520 | _aW pracy przedstawiono zagadnienia związane z analizą topografii powierzchni wzorców kontrolnych typu C (w odmianach C2 i C3) przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych. Wykazano iż wzorce tego typu mogą być sprawdzane za pomocą aparatury pomiarowej wykorzystującej nowoczesne metody optyczne - koherencyjną interferometrię korelacyjną oraz konfokalną laserową mikroskopię skaningową. | ||
| 650 | 0 | _aPowierzchnia. | |
| 650 | 0 | _aPomiary | |
| 700 | 1 |
_aŁUKIANOWICZ, Czesław. _d1996 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, _cKatedra Inżynierii Produkcji |
|
| 700 | 1 |
_aNADOLNY, Krzysztof. _d2006 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, _cKatedra Inżynierii Produkcji |
|
| 700 | 1 |
_aPAWLIKOWSKI, Rafał. _d2010 - . _bPolitechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej, _cZakład Mechatroniki i Mechaniki Stosowanej |
|
| 773 | 0 |
_iW : _tPomiary Automatyka Kontrola. - _g2011, T. 57, nr 11, s. 1404-1408 |
|
| 942 |
_cART _2UKD |
||
| 999 |
_c5230 _d5230 |
||