000 01648naa a2200253 i 4500
001 559
003 KOSZ 005
005 20180220150127.0
008 151019s2006 pl f |100 0 pol
040 _cBPK
_dKOSZ 005/EG
080 _a621.382.3
100 1 _aJANKE, Włodzimierz.
_d1996 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki,
_cKatedra Systemów Elektronicznych
245 1 0 _aWpływ temperatury otoczenia na charakterystyki termiczne tranzystorów mikrofalowych /
_cWłodzimierz Janke, Jarosław Kraśniewski, Maciej Oleksy.
500 _aDane z autopsji.
520 _aPrzedstawiono pomiary przejściowych przebiegów temperatury wnętrza tranzystorów mikrofalowych dla wewnętrznego pobudzenia mocą w różnych temperaturach otoczenia. Przedstawiono stanowisko badawcze i przykładowe wyniki pomiarów.
650 0 _aTemperatura - pomiary.
650 0 _aTranzystory.
655 0 _aMateriały konferencyjne.
700 1 _aKRAŚNIEWSKI, Jarosław.
_d1997 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki,
_cKatedra Systemów Elektronicznych
700 1 _aOLEKSY, Maciej.
_d2003 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki,
_cKatedra Systemów Elektronicznych
773 0 _iW :
_tPiąta Krajowa Konferencja Elektroniki : materiały konferencji. T. 1/2 / [kom. red. Włodzimierz Janke - przewodn., Maciej Bączek, Stefan Łuczak]. -
_dKoszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006. -
_gs. 261-266
711 2 2 _aKrajowa Konferencja Elektroniki
_n(5 ;
_d2006 ;
_cDarłówko Wschodnie, Polska).
_pKKE'2006
942 _cROZ
_2UKD
999 _c559
_d559