000			01509naa a2200253 i 4500
001			BPP
003			BPK
005			20180217130842.0
008			140714s1981 pl f |100 0 pol
040			_cBPK
080			_a621.9
100			_aŁUKIANOWICZ, Tatiana. _d1973 - 1996. _bWyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Instytut Budowy Maszyn, _cZakład Technologii Maszyn
245			_aOptyczna metoda określania zawartości monokryształów węglika krzemu w ścierniwie / _cTatiana Łukianowicz, Mirosław Wiśniewski.
260			_c1981.
500			_aDane z autopsji.
520			_aPrzedstawiono optyczną metodę określania zawartości monokryształów SiC w ścierniwie. Metoda opiera się na wykorzystaniu związku między wartością sumarycznej energii światła odbitego od powierzchni ścierniwa a zawartością monokryształów w ścierniwie. W wyniku przeprowadzonych badań stwierdzono praktyczną przydatność metody.
650		0	_aMateriały ścierne.
650		0	_aWęgliki.
655		0	_aMateriały konferencyjne.
700			_aWIŚNIEWSKI, Mirosław. _d1979 - 1996. _bWyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Instytut Budowy Maszyn, _cZakład Technologii Maszyn
773			_iW : _tObróbka ścierna : Obrabiarki i narzędzia : IV Konferencja Naukowo-Techniczna. - _dŁódź : SIMP - ZORPOT, 1981. - _gs. 169-171
711			_aKonferencja Naukowo-Techniczna nt. Obróbka ścierna : Technologia _n(4 ; _d1981.05 ; _cŁódź, Polska).
942			_cART _2UKD
999			_c5735 _d5735