000			01328nab a2200241 i 4500
001			BPP
003			BPK
005			20190610114326.0
008			140523s2012 pl f |000 0 pol
040			_cBPK
041			_apol _beng
080			_a621.791/.795
100			_aKAPŁONEK, Wojciech. _d2008 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, _cKatedra Inżynierii Produkcji
245			_aPomiary topografii czynnej powierzchni foliowych taśm mikrościernych z wykorzystaniem konfokalnej laserowej mikroskopii skaningowej = _bMeasurements of surface topography of microfinishing films with use of confocal laser scanning microscopy / _cWojciech Kapłonek, Robert Tomkowski, Michal Zelenak.
260			_c2012.
500			_aDane z autopsji.
520			_aW pracy przedstawiono zagadnienia związane z pomiarami topografii powierzchni narzędzi ściernych stosowanych w procesach mikro- i nanoobróbki. Ocenie poddano zestaw elastycznych foliowych taśm mikrościernych z ziarnem diamentowym.
650		0	_aPrzyrządy pomiarowe.
650		0	_aInżynieria powierzchni
700			_aTOMKOWSKI, Robert. _d2008 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, _cKatedra Mechaniki Precyzyjnej
773			_iW : _tPomiary Automatyka Kontrola. - _g2012, Vol. 58, nr 1, s. 37-39
942			_cART _2UKD
999			_c6145 _d6145