| 000 | 00892nab a2200205 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BPP | ||
| 003 | BPK | ||
| 005 | 20160126105705.0 | ||
| 008 | 160126s2012 pl | | |000 ||pol | ||
| 040 | _cBPK | ||
| 080 | _a621.38 | ||
| 100 |
_aKUBICKI, Maciej - doktorant. _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki |
||
| 245 |
_aPrzegląd metod pomiaru szczelności elementów elektronicznych / _cMaciej Kubicki. |
||
| 260 | _c2012. | ||
| 500 | _aDane z autopsji. | ||
| 520 | _aArtykuł przedstawia przegląd metod pomiaru szczelności elementów elektronicznych zawartych w standardach przemysłowych oraz przedstawianych w literaturze alternatywnych metod pomiaru. | ||
| 650 | _aElektronika - pomiary - urządzenia. | ||
| 773 |
_iW : _tZeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej. - _g2012, nr 4, s. 67-82 |
||
| 942 |
_cART _2UKD |
||
| 999 |
_c6933 _d6933 |
||