000			01547naa a2200253 i 4500
001			762
003			KOSZ 005
005			20191005121919.0
008			151208s2007 pl f |100 0 pol
040			_cBPK _dKOSZ 005/EG
080			_a535.3
100	1		_aPatryn, Aleksy _eAutor _d1996 - . _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, _cKatedra Podstaw Elektroniki
245	1	0	_aAnaliza widma fotonapięcia w krzemie przy krawędzi absorpcji / _cGrzegorz Ileczko, Aleksy Patryn.
500			_aDane z autopsji.
520			_aW pracy przedstawiono analizę widma fotonapięcia powierzchniowego w krzemie w obszarze absorpcji pasmo-pasmo blisko jego krawędzi i wpływ rozbieżności pomiędzy widmem rzeczywistego i zastosowanego współczynnika absorpcji w modelu do wyznaczenia wartości długości drogi dyfuzji nośników ładunku L w półprzewodniku.
650		0	_aOptoelektronika.
650		0	_aŚwiatło.
650		0	_aAbsorpcja.
655		0	_aMateriały konferencyjne.
700	1		_aILECZKO, Grzegorz - doktorant. _bPolitechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki, _cKatedra Podstaw Elektroniki
711	2	2	_aKrajowa Konferencja Studentów i Młodych Pracowników Nauki "XXI wiek erą elektroniki i teleinformatyki" _n(4 ; _d2007 ; _cKoszalin, Polska).
773	0		_iW : _tModele inżynierii teleinformatyki : (wybrane zastosowania). 2 / red. nauk. Marian Kopczewski. - _dKoszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2007. - _gs. 89-94
942			_cROZ _2UKD
999			_c762 _d762