000 01315nab a22002057i 4500
003 KOSZ 005
005 20180430103441.0
008 160308s2005 GB ||||| ||||0|| 0eng
035 _aPBN-R:246400
040 _cKOSZ 005/md
_aPBN-ID
041 0 _aeng
100 _aGULBIŃSKI, Witold.
_d1996 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej,
245 1 0 _aEvaluation of phase, composition, microstructure and properties in TiC/a-C:H thin films deposited by magnetron sputtering /
_cTomasz Suszko, Adam Gilewicz, Witold Gulbiński, Senjai Mathur, Hao Shen, Bogdan Warcholiński.
260 _c2005.
700 _aGILEWICZ, Adam.
_d1996 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej,
_cZakład Nanotechnologii Próżniowo-Plazmowej
700 _aSUSZKO, Tomasz.
_d1996 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej,
_cZakład Fizyki
700 _aWARCHOLIŃSKI, Bogdan.
_d1996 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej,
_cZakład Nanotechnologii Próżniowo-Plazmowej
773 0 8 _iW:
_tApplied Surface Science. -
_x0169-4332
_dELSEVIER SCIENCE BV
_g2005, nr 239(3-4), s. 302-310
942 _cART
_2UKD
999 _c8023
_d8023