000 01360nab a22002057i 4500
001 8030
003 KOSZ 005
005 20180502084148.0
008 160308s2012 ||||| ||||0|| ||eng
035 _aPBN-R:250730
040 _cKOSZ 005/md
_aPBN-ID
_dKOSZ 005/EG
041 0 _aeng
100 1 _aGILEWICZ, Adam.
_d1996 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej,
_cZakład Nanotechnologii Próżniowo-Plazmowej
245 1 0 _aAn analysis of macroparticle-related defects in the CrCN and CrN coatings in dependence on the substrate bias voltage /
_cAdam Gilewicz, Zbigniew Kukliński, Jerzy Ratajski, Jarosław Rochowicz, Bogdan Warcholiński.
700 1 _aKUKLIŃSKI, Zbigniew.
_d1996 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej,
_cCentrum Technologii Próżniowo-Plazmowych
700 1 _aRATAJSKI, Jerzy.
_d1996 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej,
_cZakład Projektowania Materiałów i Procesów
700 1 _aWARCHOLIŃSKI, Bogdan.
_d1996 - .
_bPolitechnika Koszalińska - Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Techniki Próżniowej,
_cZakład Nanotechnologii Próżniowo-Plazmowej
773 0 _iW :
_tVacuum. -
_g2012, nr 86(9), s. 1235-1239
_x0042-207X
942 _cART
_2UKD
999 _c8030
_d8030