Logo BPK

Bibliografia Prac Pracowników

Politechniki Koszalińskiej

Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Zastosowanie metody fotometrycznej do analizy struktury geometrycznej powierzchni : praca doktorska / Czesław Łukianowicz ; Politechnika Wrocławska. Instytut Budowy Maszyn.

Autor: Współtwórca(-y): Rodzaj materiału: TekstJęzyk: polski Szczegóły wydania: Wrocław : [s.n.], 1976.Opis: 124 strony : ilustracje ; 30 cm + załącznik : 72, [49] stron : rysunkiTyp zawartości:
  • Tekst
Tryb odtwarzania:
  • Bez urządzenia pośredniczącego
Typ nośnika:
  • Wolumin
Tematy: Rodzaj/forma: Inna klasyfikacja:
  • 370000
Uwaga dotycząca dysertacji: Rozprawa doktorska. Politechnika Wrocławska. 1976. Streszczenie: Praca zawiera : analizę teoretyczną rozproszenia równoległej wiązki światła przez statystycznie nierówną powierzchnię płaską, wyznaczenie zależności między mocą promienistą odbitą od powierzchni w określonych kierunkach, a probabilistycznymi charakterystykami struktury geometrycznej powierzchni. Wyznaczono zależność funkcyjną między połyskiem powierzchni i średnim standardowym odchyleniem pochodnej profilu w przypadku normalnego rozkładu pochodnej. Określono wpływ kątów aperturowych ograniczających obszary, w których dokonuje się pomiarów mocy promienistej na zakres i czułość metody fotometrycznej.
Twoje oceny
    średnia ocena: 0.0 (0 głosów)
Egzemplarze
Okładka Typ dokumentu Obecna biblioteka Biblioteka macierzysta Kolekcja Lokalizacja Sygnatura Materiały określone Nr tomu/części URL Numer kopii Status Uwagi Termin zwrotu Kod kreskowy Zamówienia Kolejka rezerwacji egzemplarzy Kursy
Rozprawa doktorska Bibliografia Prac Pracowników - BPK Informatorium RD 002 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) załącznik Tylko na miejscu 00900393

Druk jednostronny.

Rozprawa doktorska. Politechnika Wrocławska. 1976.

Bibliografia na stronach 116-120.

Praca zawiera : analizę teoretyczną rozproszenia równoległej wiązki światła przez statystycznie nierówną powierzchnię płaską, wyznaczenie zależności między mocą promienistą odbitą od powierzchni w określonych kierunkach, a probabilistycznymi charakterystykami struktury geometrycznej powierzchni. Wyznaczono zależność funkcyjną między połyskiem powierzchni i średnim standardowym odchyleniem pochodnej profilu w przypadku normalnego rozkładu pochodnej. Określono wpływ kątów aperturowych ograniczających obszary, w których dokonuje się pomiarów mocy promienistej na zakres i czułość metody fotometrycznej.

Załącznik do pracy doktorskiej zawiera : wyznaczanie tangensów półkątów aperturowych, obliczenia numeryczne równania, schematy urządzeń elektronicznych zastosowanych w konstrukcji stanowisk badawczych, obliczenia numeryczne parametrów rozkładu pochodnej profilu powierzchni.

© 2014 Biblioteka Politechniki Koszalińskiej :: BIBLIOGRAFIA PRAC PRACOWNIKÓW