Metoda ilościowej oceny jakości lutowania struktur tranzystorów bipolarnych do ażuru / Zbigniew Suszyński.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 2000.Tematy: Rodzaj/forma:
W: II Konferencja Grantowa Metrologia. - 2000, s. 73-78Streszczenie: Zbadano związek pomiędzy zachowaniem się charakterystyk częstotliwościowych impedancji termicznej oraz siłą połączenia ultrakompresyjnego struktury półprzewodnikowej z ażurem. Dla danego typu struktury można na podstawie charakterystyki fazowej lub amplitudowej impedancji termicznej przewidzieć wielkość siły powodującej zniszczenie połączenia ultrakompresyjnego, a tym samym ocenić ilościowo jego jakość w sposób nieinwazyjny. Współczynnik korelacji pomiędzy wynikami badań termicznych oraz badań niszczących wyniósł ok. 0,8.
Brak egzemplarzy dla tego rekordu
kopia dokumentu (Informator o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2000 roku Wydziału Elektroniki).
Zbadano związek pomiędzy zachowaniem się charakterystyk częstotliwościowych impedancji termicznej oraz siłą połączenia ultrakompresyjnego struktury półprzewodnikowej z ażurem. Dla danego typu struktury można na podstawie charakterystyki fazowej lub amplitudowej impedancji termicznej przewidzieć wielkość siły powodującej zniszczenie połączenia ultrakompresyjnego, a tym samym ocenić ilościowo jego jakość w sposób nieinwazyjny. Współczynnik korelacji pomiędzy wynikami badań termicznych oraz badań niszczących wyniósł ok. 0,8.