Zależności między mikrogeometrią powierzchni i parametrami światła rozproszonego przy pomiarach fotometrycznych / Tadeusz Karpiński, Piotr Kochaniewicz, Tadeusz Kochaniewicz.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 1995.Tematy:
W: Metrologia i Systemy Pomiarowe. - T. 2, 1995, nr 1, s. 93-104Streszczenie: W niniejszej pracy przedstawiono wyniki wpływu parametrów chropowatości powierzchni (kształtu i horyzontalnych) na zmiany parametrów fotometrycznych. Analizę mikronierówności powierzchni przeprowadzono posługując się szerokością połówkową, połyskiem, wariacją rozkładu natężenia światła rozproszonego, parametrem Pd, średnią odległością lokalnych wierzchołków profilu, średnim arytmetycznym pochyleniem profilu, średnim promieniem wierzchołków i średnią wysokością występowania wierzchołków.
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 01180 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
W niniejszej pracy przedstawiono wyniki wpływu parametrów chropowatości powierzchni (kształtu i horyzontalnych) na zmiany parametrów fotometrycznych. Analizę mikronierówności powierzchni przeprowadzono posługując się szerokością połówkową, połyskiem, wariacją rozkładu natężenia światła rozproszonego, parametrem Pd, średnią odległością lokalnych wierzchołków profilu, średnim arytmetycznym pochyleniem profilu, średnim promieniem wierzchołków i średnią wysokością występowania wierzchołków.