Optoelektroniczna głowica pomiarowa przeznaczona do jednoczesnej oceny nierówności powierzchni i wymiaru geometrycznego = Optoelectronic measuring head for simultaneous evaluation of surface irregularities and geometrical dimension / Wojciech Kapłonek.
Rodzaj materiału:
ArtykułJęzyk: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: 2006.Tematy: Rodzaj/forma:
W: Zeszyty Naukowe Wydziału Mechanicznego Politechniki Koszalińskiej. - 2006, nr 39, s. 33-39Streszczenie: W artykule przedstawiono krótkie podsumowanie prac prowadzonych przez autora nad stworzeniem optoelektronicznej głowicy pomiarowej przeznaczonej do jednoczesnej oceny nierówności powierzchni i wymiaru geometrycznego. Krótko opisano wykorzystywane metody optyczne, przedstawiono ideę umożliwiającą jednoczesny pomiar dwoma metodami, pokazano projekt optoelektronicznej głowicy pomiarowej wykonany w środowisku CAD/CAM/CAE SolidWorks oraz omówiono kierunki dalszych badań.
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 0100 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
W artykule przedstawiono krótkie podsumowanie prac prowadzonych przez autora nad stworzeniem optoelektronicznej głowicy pomiarowej przeznaczonej do jednoczesnej oceny nierówności powierzchni i wymiaru geometrycznego. Krótko opisano wykorzystywane metody optyczne, przedstawiono ideę umożliwiającą jednoczesny pomiar dwoma metodami, pokazano projekt optoelektronicznej głowicy pomiarowej wykonany w środowisku CAD/CAM/CAE SolidWorks oraz omówiono kierunki dalszych badań.