Pomiary i analiza topografii powierzchni wzorców kontrolnych typu C przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych / Wojciech Kapłonek, Czesław Łukianowicz, Krzysztof Nadolny, Rafał Pawlikowski.
Rodzaj materiału:
ArtykułJęzyk: polski Język streszczenia: angielski Inny tytuł: - Measurements and analysis of surface topography of calibration specimens of type C for stylus profilometers
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Sygnatura | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 0275 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
W pracy przedstawiono zagadnienia związane z analizą topografii powierzchni wzorców kontrolnych typu C (w odmianach C2 i C3) przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych. Wykazano iż wzorce tego typu mogą być sprawdzane za pomocą aparatury pomiarowej wykorzystującej nowoczesne metody optyczne - koherencyjną interferometrię korelacyjną oraz konfokalną laserową mikroskopię skaningową.