Spectroscopy XPS as a tool of chemical composition measurement of surface layer = Spektroskopia XPS jako narzędzie do badań składu chemicznego warstwy wierzchniej / Sylwester Wojcieszak, Łukasz Jasiukajtis.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 2012.Tematy: Rodzaj/forma:
W: Materiały IX Konferencji Studentów i Młodych Pracowników Nauki Wydziału Mechanicznego oraz V Ogólnopolskiej Konferencji Studenckich Kół Naukowych Uczelni Technicznych : XXXIV Tydzień Kultury Studenckiej / pod red. Marka Fligla, Leona Kukiełki. - Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2012. - s. 241-249Streszczenie: W pracy przedstawiono znaną metodę wykorzystywaną do badań składu chemicznego warstwy wierzchniej - spektroskopia XPS. Podano charakterystykę tej metody oraz przedstawiono przykład badania i analiza jego wyników.
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 101727 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
W pracy przedstawiono znaną metodę wykorzystywaną do badań składu chemicznego warstwy wierzchniej - spektroskopia XPS. Podano charakterystykę tej metody oraz przedstawiono przykład badania i analiza jego wyników.