Przegląd metod pomiaru szczelności elementów elektronicznych / Maciej Kubicki.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 2012.Tematy:
W: Zeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej. - 2012, nr 4, s. 67-82Streszczenie: Artykuł przedstawia przegląd metod pomiaru szczelności elementów elektronicznych zawartych w standardach przemysłowych oraz przedstawianych w literaturze alternatywnych metod pomiaru.
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 01547 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
Artykuł przedstawia przegląd metod pomiaru szczelności elementów elektronicznych zawartych w standardach przemysłowych oraz przedstawianych w literaturze alternatywnych metod pomiaru.