Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Przegląd metod pomiaru szczelności elementów elektronicznych / Maciej Kubicki.

Autor:

KUBICKI, Maciej - doktorant. Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki i Informatyki

Rodzaj materiału:

ArtykułSzczegóły wydania: 2012.Tematy:

Elektronika - pomiary - urządzenia

W: Zeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej. - 2012, nr 4, s. 67-82Streszczenie: Artykuł przedstawia przegląd metod pomiaru szczelności elementów elektronicznych zawartych w standardach przemysłowych oraz przedstawianych w literaturze alternatywnych metod pomiaru.

Egzemplarze ( 1 )
Uwagi ( 2 )

Egzemplarze
Okładka	Typ dokumentu	Obecna biblioteka	Biblioteka macierzysta	Kolekcja	Lokalizacja	Sygnatura	Materiały określone	Nr tomu/części	URL	Numer kopii	Status	Uwagi	Termin zwrotu	Kod kreskowy	Zamówienia	Kolejka rezerwacji egzemplarzy	Kursy
	Artykuł	Bibliografia Prac Pracowników - BPK				01547 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej))					Nie można wypożyczyć

Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)

Wstecz								Dalej
Wstecz	01547 Rozwiązanie równiania pola elektrycznego modelującego anteny liniowe w dziedzinie czasu /	01547 Identification of the colume and surface type absorption by the nondestructive photoacoustic method /	01547 Recruitment and selection process for project team based on fuzzy model /	01547 Przegląd metod pomiaru szczelności elementów elektronicznych /	01547 DC conductivity mechanisms in granular nanocomposite films Cux(SiO2)1-x, deposited in ar gas atmosphere /	01547 Electric and magnetic properties of nickel and nickel-plladium nanowires deposited in anodic aluminum oxide template /	01547 The zero of function and interpolation by the method of Hurwitz-Radon matrices /	Dalej

Dane z autopsji.

Artykuł przedstawia przegląd metod pomiaru szczelności elementów elektronicznych zawartych w standardach przemysłowych oraz przedstawianych w literaturze alternatywnych metod pomiaru.