Analiza widma fotonapięcia w krzemie przy krawędzi absorpcji / Grzegorz Ileczko, Aleksy Patryn.
Rodzaj materiału:
ArtykułPraca zawiera: - Krajowa Konferencja Studentów i Młodych Pracowników Nauki "XXI wiek erą elektroniki i teleinformatyki" (4 ; 2007 ; Koszalin, Polska)
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Rozdział
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 85265 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
W pracy przedstawiono analizę widma fotonapięcia powierzchniowego w krzemie w obszarze absorpcji pasmo-pasmo blisko jego krawędzi i wpływ rozbieżności pomiędzy widmem rzeczywistego i zastosowanego współczynnika absorpcji w modelu do wyznaczenia wartości długości drogi dyfuzji nośników ładunku L w półprzewodniku.