Optyczno-elektroniczny system kontrolno-pomiarowy do oceny mikrogeometrii powierzchni w ruchu = Opto-electronics system for inspection of moving rough surfaces /
ŁUKIANOWICZ, Czesław. Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji 1973 - 1996.
Optyczno-elektroniczny system kontrolno-pomiarowy do oceny mikrogeometrii powierzchni w ruchu = Opto-electronics system for inspection of moving rough surfaces / Czesław Łukianowicz. - 1994.
Dane z autopsji.
Przedstawiono wyniki prac zmierzających do zbudowania systemu przeznaczonego do oceny mikrogeometrii powierzchni przedmiotów podczas ruchu. Zasada działania systemu opiera się na wykorzystaniu zjawiska rozpraszania światła przez powierzchnie chropowate. Opisano stanowisko badawcze i przedstawiono różne warianty wykorzystania systemu kontrolno-pomiarowego do oceny powierzchni przedmiotów będących w ruchu.
Powierzchnia - pomiary.--pomiary.
Materiały konferencyjne.
621.791/.795
Optyczno-elektroniczny system kontrolno-pomiarowy do oceny mikrogeometrii powierzchni w ruchu = Opto-electronics system for inspection of moving rough surfaces / Czesław Łukianowicz. - 1994.
Dane z autopsji.
Przedstawiono wyniki prac zmierzających do zbudowania systemu przeznaczonego do oceny mikrogeometrii powierzchni przedmiotów podczas ruchu. Zasada działania systemu opiera się na wykorzystaniu zjawiska rozpraszania światła przez powierzchnie chropowate. Opisano stanowisko badawcze i przedstawiono różne warianty wykorzystania systemu kontrolno-pomiarowego do oceny powierzchni przedmiotów będących w ruchu.
Powierzchnia - pomiary.--pomiary.
Materiały konferencyjne.
621.791/.795