Optyczno-elektroniczny system kontrolno-pomiarowy do oceny mikrogeometrii powierzchni w ruchu = Opto-electronics system for inspection of moving rough surfaces / Czesław Łukianowicz.
Rodzaj materiału:
ArtykułJęzyk: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: 1994.Tematy: Rodzaj/forma:
W: Metrologia w procesach wytwarzania : V Krajowa Konferencja Naukowo-Techniczna : Forum Prac Badawczych : referaty. - Kraków : Instytut Obróbki Skrawaniem, 1994. - s. 143-148Streszczenie: Przedstawiono wyniki prac zmierzających do zbudowania systemu przeznaczonego do oceny mikrogeometrii powierzchni przedmiotów podczas ruchu. Zasada działania systemu opiera się na wykorzystaniu zjawiska rozpraszania światła przez powierzchnie chropowate. Opisano stanowisko badawcze i przedstawiono różne warianty wykorzystania systemu kontrolno-pomiarowego do oceny powierzchni przedmiotów będących w ruchu.
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 102736 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
Przedstawiono wyniki prac zmierzających do zbudowania systemu przeznaczonego do oceny mikrogeometrii powierzchni przedmiotów podczas ruchu. Zasada działania systemu opiera się na wykorzystaniu zjawiska rozpraszania światła przez powierzchnie chropowate. Opisano stanowisko badawcze i przedstawiono różne warianty wykorzystania systemu kontrolno-pomiarowego do oceny powierzchni przedmiotów będących w ruchu.