Detection of loss of air-tightness regions in power transistor by photoacoustic mathod / (Rekord nr 181)
| 000 -ETYKIETA REKORDU | |
|---|---|
| podpole kontrolne o stałej długości | 02130naa a2200253 i 4500 |
| 001 - NUMER KONTROLNY REKORDU | |
| podpole kontrolne | BPP |
| 003 - IDENTYFIKATOR NUMERU KONTROLNEGO REKORDU | |
| podpole kontrolne | BPK |
| 005 - DATA OSTATNIEJ MODYFIKACJI REKORDU | |
| podpole kontrolne | 20180316081153.0 |
| 008 - POLE O STAŁEJ DŁUGOŚCI - DANE KONTROLNE | |
| podpole kontrolne o stałej długości | 151102s2001 pl a f |100 0 eng |
| 040 ## - ŹRÓDŁO KATALOGOWANIA | |
| Instytucja, która utworzyła rekord | BPK |
| 041 ## - KOD JĘZYKA | |
| Kod języka tekstu | eng |
| 044 ## - KOD KRAJU WYDAWCY/PRODUCENTA | |
| Kod kraju wydawcy/producenta | POL |
| 100 ## - NAZWA OSOBOWA | |
| Nazwa osobowa | SUSZYŃSKI, Zbigniew. |
| Lata pracy | 1996 - . |
| Instytucja | Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, |
| Wydział | Katedra Elektroniki Ciała Stałego |
| 245 ## - TYTUŁ/ODPOWIEDZIALNOŚĆ | |
| Tytuł | Detection of loss of air-tightness regions in power transistor by photoacoustic mathod / |
| Pozostałe elementy strefy tytułu i oznaczenia odpowiedzialności | Zbigniew Suszyński, Robert Arsoba, Piotr Majchrzak. |
| 260 ## - STREFA ADRESU WYDAWNICZEGO | |
| Data publikacji, dystrybucji/powstania dokumentu | 2001. |
| 500 ## - UWAGI OGÓLNE | |
| Tekst uwagi | Dane z Informatora o publikowanych wynikach prac naukowo-badawczych w 2001 roku Wydziału Elektroniki. |
| 520 ## - UWAGA DOTYCZĄCA TREŚCI DOKUMENTU | |
| Analiza dokumentacyjna, adnotacja itp. | In this paper opportunities of applying photoacoustic method to investigate the causes of loss of air-tightness in semiconductor devices are presented. Quality of joint of plastic with metal substrate in power transistors was examined. Images of transistor structures obtained with the help of photoacoustic microscope were interpreted basing on amplitude and phase frequency dependencies. In the consequence of analysing photoacoustic images the method for unambiguous recognition of delaminations, which are the cause of loss of air-tightness, was developed. This recognition can be carried out regardless of factors exerting influence on images such as geometrical changes and variations of physical parameters of examined object. The results obtained allow to optimise technological conditions of encapsulation process. |
| 650 #0 - HASŁO PRZEDMIOTOWE W FORMIE NAZWY OGÓLNEJ LUB JEDNOSTKOWEJ | |
| Nazwa ogólna lub geograficzna | Tranzystory. |
| 700 ## - HASŁO DODATKOWE - NAZWA OSOBOWA | |
| Nazwa osobowa | ARSOBA, Robert. |
| Lata pracy | 1996 - . |
| Instytucja | Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, |
| Wydział | Katedra Inżynierii Komputerowej |
| 700 ## - HASŁO DODATKOWE - NAZWA OSOBOWA | |
| Nazwa osobowa | MAJCHRZAK, Piotr. |
| Lata pracy | 1998 - . |
| Instytucja | Politechnika Koszalińska - Wydział Elektroniki, |
| Wydział | Katedra Inżynierii Komputerowej |
| 711 ## - HASŁO DODATKOWE - NAZWA IMPREZY | |
| Nazwa imprezy | International Conference IMAPS-Poland 2001 |
| Oznaczenie części/sekcji dzieła | (25 ; |
| Data imprezy | 2001 ; |
| Miejsce imprezy | Rzeszów / Polańczyk, Polska). |
| Nazwa części/sekcji dzieła | IMAPS - POLAND 2001 |
| 773 ## - TYTUŁ DOKUMENTU MACIERZYSTEGO | |
| Wyrażenie wprowadzające | W : |
| Tytuł | 25 International Conference and Exhibition IMAPS–Poland 2001 : Rzeszów–Polańczyk 26–29 September 2001. - |
| Adres wydawniczy | Rzeszów, 2001. - |
| Informacje dotyczące relacji | s. 271-274 |
| 942 ## - HASŁO DODATKOWE - ELEMENTY(KOHA) | |
| Typ dokumentu | Artykuł |
| Schemat klasyfikacji | Uniwersalna klasyfikacja dziesiętna |
Brak dostępnych egzemplarzy.