Pomiary i modelowanie stereometrii ziaren ściernych / Anna Tomkowska, Błażej Bałasz.
Rodzaj materiału:
ArtykułTematy:
W: Pomiary Automatyka Kontrola. - 2009, nr 4, s. 268-271Streszczenie: W artykule opisano nowe metody generowania powierzchni ziarna ściernego. Szczegółowo opisano metodę naśladującą naturalne procesy kruszenia ziaren, jako metodę najbardziej zgodną z procesami technologicznymi i łatwą w doborze parametrów stereometrycznych wierzchołków ziaren oraz ich parametrów. Opracowane modele pozwalają opisywać mikrotopografię samego ziarna oraz ukształtowanie jego wierzchołka.
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Sygnatura | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 0275 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)
Dane z autopsji.
W artykule opisano nowe metody generowania powierzchni ziarna ściernego. Szczegółowo opisano metodę naśladującą naturalne procesy kruszenia ziaren, jako metodę najbardziej zgodną z procesami technologicznymi i łatwą w doborze parametrów stereometrycznych wierzchołków ziaren oraz ich parametrów. Opracowane modele pozwalają opisywać mikrotopografię samego ziarna oraz ukształtowanie jego wierzchołka.