Tackling the problems of determination and numerical integration of contents of vector gradient fields in possible visual inspection of very textured surfaces = Omówienie zagadnień wyznaczania i numerycznego całkowania zawartości wektorowych pól gradientu w możliwej inspekcji wizualnej powierzchni o rozbudowanej strukturze geometrycznej / Artur Bernat, Wojciech Kacalak.
Rodzaj materiału:
ArtykułJęzyk: angielski Język streszczenia: polski Szczegóły wydania: 2008.Tematy:
W: Archiwum Technologii Maszyn i Automatyzacji = Archives of Mechanical Technology and Automation. - V. 28, 2008, nr 2, s. 59-74Streszczenie: W artykule przedstawiono informacje dotyczące niezawodnego pozyskiwania i numerycznego całkowania zawartości wektorowego pola gradientu w obecności szumu względem sygnału informacji użytecznej. W zagadnieniu inspekcji wizualnej powierzchni o rozbudowanej strukturze wykorzystano wieloobrazowe podejście, jako nową koncepcję w bezdotykowym badaniu powierzchni charakteryzujących się zarówno złożonością cech natury topograficznej, jak i uwarunkowanych odbiciem światła.
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 0720 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)
Dane z autopsji.
W artykule przedstawiono informacje dotyczące niezawodnego pozyskiwania i numerycznego całkowania zawartości wektorowego pola gradientu w obecności szumu względem sygnału informacji użytecznej. W zagadnieniu inspekcji wizualnej powierzchni o rozbudowanej strukturze wykorzystano wieloobrazowe podejście, jako nową koncepcję w bezdotykowym badaniu powierzchni charakteryzujących się zarówno złożonością cech natury topograficznej, jak i uwarunkowanych odbiciem światła.