Algorytmy genetycznego diagnozowania urządzeń elektronicznych / Józef Drabarek, Robert Wirski.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 2004.Tematy: Rodzaj/forma:
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki : materiały konferencji. T. 1/2. - Koszalin : Wyd. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004. - s. 175-180Streszczenie: Przedstawiono możliwość zastosowania algorytmów genetycznych w systemie ekspertowym diagnozującym urządzenia elektroniczne, a w szczególności problemy związane z lokalizacją powstałego uszkodzenia. Zaprojektowany system opiera się na wykrywaniu uszkodzeń w urządzeniu na podstawie analizy symptomów w obrębie pojedynczych obiektów wchodzących w skład tego urządzenia.
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 72243 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)
Dane z autopsji.
Przedstawiono możliwość zastosowania algorytmów genetycznych w systemie ekspertowym diagnozującym urządzenia elektroniczne, a w szczególności problemy związane z lokalizacją powstałego uszkodzenia. Zaprojektowany system opiera się na wykrywaniu uszkodzeń w urządzeniu na podstawie analizy symptomów w obrębie pojedynczych obiektów wchodzących w skład tego urządzenia.