Elipsometria spektroskopowa kryształów ferroelektrycznych w nadfiolecie próżniowym / Bohdan Andriyevsky, Aleksy Patryn, Wioleta Ciepluch-Trojanek.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 2009.Tematy:
W: Zeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej. - 2009, nr 1, s. 76-86Streszczenie: W artykule przedstawiono zasady przeprowadzenia analizy elipsometrycznej kryształów optycznych w zakresie nadfioletu próżniowego oraz wyniki oryginalnych badań wybranych kryształów ferroelektrycznych typu TGS (siarczan trójglicyny).
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 01547 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)
Dane z autopsji.
W artykule przedstawiono zasady przeprowadzenia analizy elipsometrycznej kryształów optycznych w zakresie nadfioletu próżniowego oraz wyniki oryginalnych badań wybranych kryształów ferroelektrycznych typu TGS (siarczan trójglicyny).