Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Podstawy pomiarów nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła / Czesław Łukianowicz.

Autor:

ŁUKIANOWICZ, Czesław. Politechnika Koszalińska - Wydział Mechaniczny, Katedra Inżynierii Produkcji, 1996 -

Rodzaj materiału:

ArtykułJęzyk: polski Język streszczenia: angielski Inny tytuł:

Principles of surface roughness measurements by light scattering methods

Praca zawiera:

Posiedzenie Komitetu Budowy Maszyn Polskiej Akademii Nauk (7 ; 2002 ; Koszalin, Polska)

Tematy:

Rodzaj/forma:

Materiały konferencyjne.

W: Posiedzenie Komitetu Budowy Maszyn Polskiej Akademii Nauk - maj 2002 r. T. 1 / pod red. L. Kukiełki. - s. 333-345Streszczenie: W artykule przedstawiono podstawy pomiarów nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła. Metody te są stosowane do pomiarów precyzyjnie obrobionych powierzchni w zautomatyzowanych procesach produkcyjnych. Rozpatrzono także czynniki wpływające na przestrzenny kształt rozkładu natężenia światła rozproszonego oraz problem odwzorowania nierówności powierzchni na podstawie pomiarów pola dyfrakcyjnego.

Egzemplarze ( 1 )
Uwagi ( 2 )

Egzemplarze
Typ dokumentu	Obecna biblioteka	Sygnatura	Status	Termin zwrotu	Kod kreskowy
Rozdział	Bibliografia Prac Pracowników - BPK	0100 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej))	Nie można wypożyczyć

Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)

Wstecz								Dalej
Wstecz	0100 Wielokryterialna analiza procesu powierzchniowego nagniatania tocznego z prądem w aspekcie właściwości eksploatacyjnych wyrobu /	0100 Optymalizacja procesu gładkościowego nagniatania rur cienkościennych /	0100 Optymalizacja rozpoznawania detali w procesie super-szybkiej obróbki ceramiki /	0100 Podstawy pomiarów nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła /	0100 Rachunek operatorowy w teorii nierelatywistycznego pola krystalicznego /	0100 Pokrycia węglowe i związków węgla otrzymywane metodami PVD i ich zastosowania przemysłowe /	0100 Integracja modeli przestrzennych stworzonych na podstawie zdjęć dookolnych /	Dalej

Dane z autopsji.

W artykule przedstawiono podstawy pomiarów nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła. Metody te są stosowane do pomiarów precyzyjnie obrobionych powierzchni w zautomatyzowanych procesach produkcyjnych. Rozpatrzono także czynniki wpływające na przestrzenny kształt rozkładu natężenia światła rozproszonego oraz problem odwzorowania nierówności powierzchni na podstawie pomiarów pola dyfrakcyjnego.