Optyczna metoda określania zawartości monokryształów węglika krzemu w ścierniwie / Tatiana Łukianowicz, Mirosław Wiśniewski.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 1981.Tematy: Rodzaj/forma:
W: Obróbka ścierna : Obrabiarki i narzędzia : IV Konferencja Naukowo-Techniczna. - s. 169-171Streszczenie: Przedstawiono optyczną metodę określania zawartości monokryształów SiC w ścierniwie. Metoda opiera się na wykorzystaniu związku między wartością sumarycznej energii światła odbitego od powierzchni ścierniwa a zawartością monokryształów w ścierniwie. W wyniku przeprowadzonych badań stwierdzono praktyczną przydatność metody.
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Sygnatura | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 28546 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)
Dane z autopsji.
Przedstawiono optyczną metodę określania zawartości monokryształów SiC w ścierniwie. Metoda opiera się na wykorzystaniu związku między wartością sumarycznej energii światła odbitego od powierzchni ścierniwa a zawartością monokryształów w ścierniwie. W wyniku przeprowadzonych badań stwierdzono praktyczną przydatność metody.