High-accuracy surface topography measurements of abrasive tools using a 3D optical profiling system / Wojciech Kapłonek, Krzysztof Nadolny, Robert Tomkowski, Jan Valicek.
Rodzaj materiału:
ArtykułJęzyk: angielski Język streszczenia: polski Inny tytuł: - Precyzyjne pomiary topografii powierzchni narzędzi ściernych z wykorzystaniem optycznego systemu profilometrycznego
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Sygnatura | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 0275 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)
Dane z autopsji.
W pracy zaproponowano wykorzystanie optycznego systemu profilometrycznego Talysurf CLI 2000 firmy Taylor-Hobson Ltd. do precyzyjnych pomiarów topografii powierzchni ściernych. Dokonano krótkiej charakterystyki urządzenia oraz opisano jeden z trybów pomiarów wykorzystujący zjawisko abberacji chromatycznej.
