Optyczna metoda określania zawartości monokryształów węglika krzemu w ścierniwie / Tatiana Łukianowicz, Mirosław Wiśniewski.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 1981.Tematy: Rodzaj/forma:
W: Obróbka ścierna : Obrabiarki i narzędzia : IV Konferencja Naukowo-Techniczna. - Łódź : SIMP - ZORPOT, 1981. - s. 169-171Streszczenie: Przedstawiono optyczną metodę określania zawartości monokryształów SiC w ścierniwie. Metoda opiera się na wykorzystaniu związku między wartością sumarycznej energii światła odbitego od powierzchni ścierniwa a zawartością monokryształów w ścierniwie. W wyniku przeprowadzonych badań stwierdzono praktyczną przydatność metody.
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 28546 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Dane z autopsji.
Przedstawiono optyczną metodę określania zawartości monokryształów SiC w ścierniwie. Metoda opiera się na wykorzystaniu związku między wartością sumarycznej energii światła odbitego od powierzchni ścierniwa a zawartością monokryształów w ścierniwie. W wyniku przeprowadzonych badań stwierdzono praktyczną przydatność metody.