Reflektometryczne pomiary nierówności powierzchni z wykorzystaniem techniki mikroprocesowej / Czesław Łukianowicz.
Rodzaj materiału:
ArtykułSzczegóły wydania: 1987.Tematy: Rodzaj/forma:
W: Zeszyty Naukowe Politechniki Rzeszowskiej. - 1987, nr 37, s. 217-222Streszczenie: W artykule opisano reflektometryczne pomiary nierówności powierzchni z wykorzystaniem techniki mikroprocesowej. Reflektometryczne metody pomiaru powierzchni opierają się na wykorzystaniu zjawiska kątowego rozpraszania światła przez powierzchnie chropowate.
| Okładka | Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Biblioteka macierzysta | Kolekcja | Lokalizacja | Sygnatura | Materiały określone | Nr tomu/części | URL | Numer kopii | Status | Uwagi | Termin zwrotu | Kod kreskowy | Zamówienia | Kolejka rezerwacji egzemplarzy | Kursy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Artykuł
|
Bibliografia Prac Pracowników - BPK | 0991 (Przeglądaj półkę(Otwórz poniżej)) | Nie można wypożyczyć |
Zakończ przeglądanie półki (Zakończ przeglądanie półki)
Dane z autopsja\i.
W artykule opisano reflektometryczne pomiary nierówności powierzchni z wykorzystaniem techniki mikroprocesowej. Reflektometryczne metody pomiaru powierzchni opierają się na wykorzystaniu zjawiska kątowego rozpraszania światła przez powierzchnie chropowate.
